Das neue FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-PCB
Das FISCHERSCOPE ® X-RAY XDAL ®-PCB ist unser neuestes Röntgenfluoreszenzgerät für die präzise Messung und Analyse von Schichtdicken und Schichtzusammensetzungen auf Leiterplatten. Als einfach zu bedienendes Tischgerät können funktionale Schichten sowie kleinste Bauteile und Strukturen auf Leiterplatten gemessen werden.
Leistungsstark dank der Kombination aus Multikollimator und einem hochempfindlichen Silizium-Drift-Detektor ergänzt es unsere PCB-Baureihe optimal. Denn das XDAL-PCB schließt die Lücke zwischen den kostengünstigeren Einsteigergeräten XULM-PCB und XDLM-PCB und unserem Premiumgerät XDV-µ PCB.
Dürfen wir vorstellen: Unser neuestes Mitglied in der PCB-Serie
- Wolfram- oder Chrom-Mikrofokusröhre für hohe Strahlintensität und Messpräzision
- 3-fach wechselbarer Filter für bessere Anregungsbedingen bei komplexeren Aufgaben
- 4-fach wechselbare Blenden (Kollimatoren) für optimierte Messbedingungen
- Kleinster Messfleck Ø ca. 0,15 mm
- Hochempfindlicher Silizium-Drift-Detektor (SDD) für hochauflösende Resultate mit geringer Messzeit und verbesserter Wiederholpräzision
- Manuell herausziehbarer Messtisch für Leiterplatten bis 610 x 610 mm, optional mit Probentischerweiterung oder automatischem Tisch
- Maximale Probenhöhe 10 mm
- Messabstand 0…10 mm mit der von Fischer patentierten DCM-Methode für die einfache und schnelle Anpassung der Messdistanz
- Für Analysen von leichten Elementen von Aluminium (13) bis Uran (92)
- Direkte Phosphor-Bestimmung von NiP-Schichten möglich
- Erfüllt die Anforderungen zur Messung von ENIG- und ENEPIG-Beschichtungen
- Zulassung: Einzelabnahme als Vollschutzgerät gemäß deutschem Strahlenschutzrecht, Genehmigungspflichtig gemäß § 12 Strahlenschutzgesetz
Aus 3 mach 4: Unsere gesamte Fischer PCB-Familie im Überblick
Mit der PCB-Geräteserie bietet Helmut Fischer spezialisierte Messlösungen für Leiterplatten. Die PCB-Profis liefern zuverlässige und schnelle Ergebnisse für einfache als auch für ambitionierte Messaufgaben und Schichtdickenmessung bis in den Nanometerbereich. Vergleichen Sie unsere Modelle! Gerne beraten wir Sie in Bezug auf das optimale XRF-Gerät für Ihre Messaufgaben.
| FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB |
|---|
 |
| Wolfram-Mikrofokusröhre |
| fixe Blende |
| fixer Filter |
| Kleinster Messfleck Ø ca. 0,15 mm |
| Proportionalzählrohr |
| Fester Tisch, optional mit Messtischerweiterung |
| 90 mm bei Messabstand von 0 … 10 mm |
| DIN ISO 3497 ASTM B 568 |
| FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB |
|---|
|
| Wolfram-Mikrofokusröhre |
| fixe Blende, optional 4-fach wechselbare Blenden |
| fixer Filter, optional 3-fach wechselbarer Filter |
| Kleinster Messfleck Ø ca. 0,15 mm |
| Proportionalzählrohr |
| Manuell herausziehbarer oder programmierbarer Tisch |
| 5 mm bei Messabstand von 0 … 10 mm |
| DIN ISO 3497 ASTM B 568 |
| FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-PCB |
|---|
|
| Mikrofokusröhre mit Wolfram oder Chrom |
| 4-fach wechselbare Blende |
| 3-fach wechselbarer Filter |
| Kleinster Messfleck Ø ca. 0,15 mm |
| Silizium-Drift-Detektor 20 mm², optional 50 mm² |
| Manuell herausziehbarer Tisch, optional mit Messtischerweiterung oder automatisiert |
| 10 mm bei Messabstand von 0 … 10 mm |
| DIN ISO 3497 ASTM B 568 IPC-4552-A/B IPC-4556 |
| FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB |
|---|
|
| Mikrofokusröhre mit Wolfram oder Molybdän |
| 4-fach wechselbare Blende |
| 4-fach wechselbarer Filter |
| Kleinster Messfleck Ø ca. 20 oder 10 µm dank Polykapillaroptik |
| Polykapillare und Silizium-Drift-Detektor 20 mm², optional 50 mm² |
| Programmierbarer Tisch, optional mit Vakuum-Halterung für FLEX-PCBs |
| < 4-5 mm bei festem Messabstand |
| DIN ISO 3497 ASTM B 568 IPC-4552-A/B IPC-4556 |
Mit Fischer zuverlässig gemäß IPC-4552 und -4556 produzieren
Das FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-PCB und das FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB erfüllen die Normen IPC-4552-A/B und IPC-4556 und somit die ENIG- und ENEPIG-Anforderungen.
IPC-4556 ist die maßgebliche Spezifikation für die Beschichtung von Leiterplatten mit ENEPIG (chemisch Nickel/chemisch Palladium/Tauchgold). IPC-4552-A/B für ENIG (chemisch Nickel/chemisch Gold).
Die IPC-Spezifikation enthält detaillierte Richtlinien für die Herstellung hochwertiger Leiterplattenbeschichtungen, die optimale Bedingungen für eine hohe Lagerbeständigkeit/ Haltbarkeit, gute Lötbarkeit und verlässliche Bondungen aus Gold-, Kupfer- oder Aluminiumdraht bietet.
Lesen Sie in unserer Application Note mehr zur Messung von IPC-4552B und IPC-4556A mit dem FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB 200.
Viele Anwendungen, für jeden die passende Lösung
Rund um Leiterplatten, Wafer, Steckkontakte, Drähte und andere Bauelemente finden Sie in unserem Portfolio zuverlässige Messlösungen für Ihre Anwendung – egal ob Bestimmung des Bleigehalts in Loten oder von Phosphor, die Analyse der Zusammensetzung von Galvanikbädern oder des typischen Schichtaufbaus auf PCB wie chem. Au/NiP/Cu/PCB, chem. Sn/Cu/PCB, Au/Ni/PCB, Sn/Cu/PCB, Ag/Cu/PCB.
Wobei wir Sie unterstützen können? Unsere zahlreichen Case Studies geben Ihnen einen kleinen Einblick:
- Leiterplatten
- Wafer und Halbleiter
- ROHS/WEEE/EOLV/CPSIA
- Elektronische Bauteile
- Lead Frames
- ENIG IPC-4552-B
The Fischer Advantage
Gerade dann, wenn Strukturen immer kleiner und Ansprüche immer höher werden, ist eine strenge Qualitätskontrolle gefragt. Helmut Fischer ist Ihr Partner für präzise und absolut zuverlässige Messtechnik im Bereich der Röntgenfluoreszenzanalyse. Mit unseren FISCHERSCOPE® X-Ray-Systemen bieten wir Ihnen hocheffiziente Messlösungen, die Ihnen Ihre Arbeit erleichtern.
Getreu unserem Motto “Measuring Made Easy” ist eine Messaufgabe einfach zu lösen, wenn Sie als Kunde das passende Werkzeug dazu haben. Profitieren Sie von unserem Komplettpaket: Für eine bestmögliche Qualität setzen wir auf eine detaillierte Bedarfsanalyse, kompetente Beratung und Inbetriebnahme sowie ein individuelles Servicekonzept.