Das neue FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-PCB
– Fits perfectly the Fischer Family

Das FISCHERSCOPE ® X-RAY XDAL ®-PCB ist unser neuestes Röntgenfluoreszenzgerät für die präzise Messung und Analyse von Schichtdicken und Schichtzusammensetzungen auf Leiterplatten. Als einfach zu bedienendes Tischgerät können funktionale Schichten sowie kleinste Bauteile und Strukturen auf Leiterplatten gemessen werden.

Leistungsstark dank der Kombination aus Kollimator und einem hochempfindlichen Silizium-Drift-Detektor ergänzt es unsere PCB-Baureihen optimal. Denn das XDAL-PCB schließt die Lücke zwischen den kostengünstigeren Einsteigergeräten XULM-PCB und XDLM-PCB und unserem Premiumgerät XDV-µ-PCB. 

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Dürfen wir vorstellen: Unser FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-PCB

Leistungsfähig dank modernem Silizium-Drift-Detektor, ideal für komplexere Messaufgaben
und Schichten < 0,1 µm. Darüber hinaus profitieren Sie von:
Wolfram- oder Chrom-Mikrofokusröhre für hohe Strahlintensität und Messpräzisiona
3-fach wechselbarer Filter, für bessere Anregungsbedingen bei komplexeren Aufgaben
4-fach wechselbare Blenden für optimierte Messbedingungen
Kleinster Messfleck Ø ca. 0,2 mm
Hochempfindlicher Silizium-Drift-Detektor (SDD) für hochauflösende Resultate mit geringer Messzeit und verbesserter Wiederholpräzision
Manuell herausziehbarer Messtisch für Leiterplatten bis 610 x 610 mm (24 x 24 in), optional mit automatischem Tisch, auf Wunsch mit Probentischerweiterung für Leiterplatten bis 1200 x 900 mm (47,2 x 35,4 in)
Maximale Probenhöhe 10 mm
Messabstand 0…10 mm mit der von Fischer patentierten DCM-Methode für die einfache und schnelle Anpassung der Messdistanz
Für Analysen von leichten Elementen von Aluminium (13) bis Uran (92)
Direkte Phosphor-Bestimmung von NiP-Schichten möglich
Erfüllt ENIG- und ENEPIG-Anforderungen
Zulassung: Einzelabnahme als Vollschutzgerät gemäß deutschem Strahlenschutzrecht, Genehmigungspflichtig gemäß § 12 Strahlenschutzgesetz

Haben wir Ihr Interesse geweckt? Unsere Fischer Experten stehen Ihnen für weitere Fragen zur Verfügung.

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FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB
  • Robustes Einsteigergerät
  • Ausgestattet mit Proportionalzählrohr für einfache Messaufgaben
  • Ideal für die schnelle Messung von Schichten > 0,1 µm bei kleinem Messfleck
Wolfram-Mikrofokusröhre
fixe Blende
fixer Filter
Kleinster Messfleck Ø ca. 0,15 mm
Proportionalzählrohr 
Fester Tisch, optional mit Messtischerweiterung​
90 mm bei Messabstand von 0 … 10 mm
DIN ISO 3497
ASTM B 568
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB
  • Robustes Einsteigergerät
  • Ausgestattet mit Proportionalzählrohr für einfache Messaufgaben
  • Ideal für die schnelle Messung von Schichten > 0,1 µm bei kleinem Messfleck
  • Weitere Individualisierungsmöglichkeiten: Blende, Filter, Messtisch
  • Qualifiziert sich auch für automatisierte Messungen in der Fertigungskontrolle
Wolfram-Mikrofokusröhre
fixe Blende, optional 4-fach wechselbare Blenden​
fixer Filter, optional 3-fach wechselbarer Filter​
Kleinster Messfleck Ø ca. 0,15 mm​
Proportionalzählrohr 
Manuell herausziehbarer oderprogrammierbarer Tisch​
5 mm bei Messabstand von 0 … 10 mm​
DIN ISO 3497
ASTM B 568
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-PCB​
  • Leistungsstarkes Modell
  • Ausgestattet mit leistungsfähigem Silizium-Drift-Detektor für komplexe Messaufgaben
  • Ideal für die schnelle Messung dünner Schichten < 0,1 µm bei kleinem Messfleck
  • Erfüllt ENIG- und ENEPIG-Anforderungen
Mikrofokusröhre mit Wolfram oder Chrom​
4-fach wechselbare Blende​
3-fach wechselbarer Filter​
Kleinster Messfleck Ø ca. 0,15 mm bei Blende 0,1 mm​
Silizium-Drift-Detektor (SDD) 20 mm², optional 50 mm²​
Manuell herausziehbarer Tisch, optional mitMesstischerweiterung, auch automatisiertmöglich​
10 mm bei Messabstand von 0 … 10 mm​
DIN ISO 3497
ASTM B 568
IPC 4552
IPC 4556​
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ-PCB​
  • Extrem leistungsstarkes Premiummodell
  • Ausgestattet mit leistungsfähigem Silizium-Drift-Detektor für komplexere Messaufgaben
  • Dank Polykapillaroptik besonders kleine Messflecke bei sehr hoher Anregungsintensität
  • Ideal für die schnelle Messung kleinster Strukturen und Schichten < 0,1 µm - Erfüllt ENIG- und ENEPIG-Anforderungen
Mikrofokusröhre mit Wolfram oder Molybdän​
4-fach wechselbare Blende​
4-fach wechselbarer Filter​
Kleinster Messfleck Ø ca. 20 oder 10 µm dank Polykapillaroptik​
Polykapillare und Silizium-Drift-Detektor (SDD) 20 mm², optional 50 mm²​
Programmierbarer Tisch, optional mit Vakuum-Halterung für FLEX-PCBs​
< 4-5 mm bei festen Messabstand von ca. 4-5 mm​
DIN ISO 3497
ASTM B 568
IPC 4552
IPC 4556​

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