Richtig Messen will gelernt sein. Jetzt anmelden und teilnehmen!

SCHICHTDICKENMESSUNG UND MATERIALANALYSE MIT RÖNTGENFLUORESZENZ

In der eintägigen X-RAY-Schulung vermitteln unsere erfahrenen Produkttrainer und Applikationstechniker in praktischen und theoretischen Einheiten grundlegendes Fachwissen rund um die Röntgenfluoreszenzanalyse. So lernen Sie unter anderem, wie Sie richtig messen, indem Sie Messeinflüsse im Blick behalten und die Messtechnik korrekt einsetzen. Profitieren Sie von unserer langjährigen Erfahrung und werden Sie selbst zum Experten!

INHALTE

  • Theoretische Grundlagen als Basis
  • Optimale Einsatzbereiche in der Schichtdickenmessung und Materialanalyse
  • Einflussparameter und deren Auswirkungen
  • Umsetzung der Theorie an unterschiedlichen Gerätetypen
  • Richtige Kalibrierung für präzise Messergebnisse
  • Messungen an einfachen 1-Schicht-Systemen bis zu komplexen Mehrschicht- und Legierungssystemen
  • Messmittelüberwachung für langfristig hohe Qualität

Dauer

  • 1 Tag (09:00 Uhr – 16:00 Uhr)

Teilnahmegebühren

  • 395,00 € zzgl. MwSt.
  • Inklusive Schulungsunterlagen, Zertifikat und Verpflegung

Unsere Termine im Überblick

mittwoch, 08.10.2025 berlin - AUSGEBUCHT

Helmut Fischer GmbH
Applikationslabor Berlin
Albert-Einstein-Str. 14
12489 Berlin

Bei Fragen sind wir gerne für Sie da unter +49 (0) 7031 / 303-547 oder per E-Mail an seminare@helmut-fischer.com.