Richtig messen will gelernt sein. Jetzt anmelden und teilnehmen!

Schichtdickenmessung und Materialanalyse mit Röntgenfluoreszenz

In dem eintägigen X-Ray-Seminar vermitteln unsere erfahrenen Applikationstechniker in praktischen und theoretischen Einheiten grundlegendes Fachwissen rund um die Röntgenfluoreszenzanalyse. So lernen Sie z.B., wie Sie richtig messen, indem Sie Messeinflüsse im Blick behalten und die Messtechnik korrekt einsetzen. Profitieren Sie von unserer langjährigen Erfahrung und werden Sie selbst zum Experten!

INHALTE

  • Theoretische Grundlagen als Basis
  • Optimale Einsatzbereiche in der Schichtdickenmessung und Materialanalyse
  • Einflussparameter und deren Auswirkungen
  • Richtige Kalibrierung für präzise Messergebnisse
  • Untersuchung von galvanischen Bädern und Lösungen als Beispiel komplexer Messaufgaben
  • Umsetzung der Theorie an unterschiedlichen Gerätetypen
  • Analyse mitgebrachter Musterteile
  • Messmittelüberwachung für langfristig hohe Qualität

Seminar-Termin für 2020

Seminare für 2020 werden in Kürze bekannt gegeben

Allgemeine Informationen

Dauer
1 Tag (9:00 Uhr – 17:00 Uhr)

Teilnahmegebühren
195,00 € zzgl. MwSt. (inklusive Seminarunterlagen, Zertifikat und Verpflegung)

Anmeldung
Direkt über das unten stehende Anmeldeformular

Weitere Informationen finden Sie auf unserer Webseite www.helmut-fischer.com/seminare

Verbindliche Anmeldung

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