Richtig Messen will gelernt sein. Jetzt anmelden und teilnehmen!
Schichtdickenmessung und Materialanalyse mit Röntgenfluoreszenz
In der eintägigen X-Ray-Schulung vermitteln unsere erfahrenen Applikationstechniker in praktischen und theoretischen Einheiten grundlegendes Fachwissen rund um die Röntgenfluoreszenzanalyse. So lernen Sie unter anderem, wie Sie richtig messen, indem Sie Messeinflüsse im Blick behalten und die Messtechnik korrekt einsetzen. Profitieren Sie von unserer langjährigen Erfahrung und werden Sie selbst zum Experten! Jetzt anmelden.
INHALTE
- Theoretische Grundlagen als Basis
- Optimale Einsatzbereiche in der Schichtdickenmessung und Materialanalyse
- Einflussparameter und deren Auswirkungen
- Richtige Kalibrierung für präzise Messergebnisse
- Untersuchung von galvanischen Bädern und Lösungen als Beispiel komplexer Messaufgaben
- Umsetzung der Theorie an unterschiedlichen Gerätetypen
- Analyse mitgebrachter Musterteile
- Messmittelüberwachung für langfristig hohe Qualität
Schulungstermine für 2020
- Mittwoch, 25. März 2020
HELMUT FISCHER GMBH
INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND MESSTECHNIK
Industriestr. 21
71069 Sindelfingen
- Mittwoch, 01. April 2020
Standort Berlin
Rudower Chausse 29-31
12489 Berlin
- Mittwoch, 27. Mai 2020
Standort Düsseldorf
In der Steele 2
40599 Düsseldorf
Allgemeine Informationen
Dauer
1 Tag (09:00 Uhr – 17:00 Uhr)
Teilnahmegebühren
395,00 € zzgl. MwSt. (inklusive Schulungsunterlagen, Zertifikat und Verpflegung)
Anmeldung
Direkt über das unten stehende Anmeldeformular
Kein passender Termin für Sie dabei?
Gerne können Sie auch ein individuelles Training an Ihrem eigenen Fischer Gerät bei Ihnen vor Ort oder in unseren Applikationslaboren vereinbaren. Die Intensivschulung bezieht sich dabei konkret auf die Umsetzung Ihrer Messaufgaben. Die Gruppengröße ist von Ihnen frei wählbar. Fragen Sie hier an.